发明名称 |
液晶面板面内缺陷的检测装置及检测方法 |
摘要 |
本发明属于液晶面板领域,提供了一种液晶面板面内缺陷的检测装置,包括用于放置液晶面板的一工作台以及一悬设于所述工作台上方的施压设备,所述施压设备可以对液晶面板的整个液晶区域均匀施压,使液晶面板产生一个允许的变形量,且在施压过程中能保护液晶面板不受损坏;还提供了一种液晶面板面内缺陷的检测方法,在液晶面板加工组装成模组之前,通过施压设备对液晶面板的液晶区域均匀施压,使液晶面板产生一个允许的变形量,然后对受压后的液晶面板通电,检测液晶面板的液晶区域是否出现异常的亮线或暗线,如出现则表明该变形处有缺陷,质量不合格;如没出现则表明该变形处没有缺陷,质量合格,该检测方法可以有效地检测出液晶面板面内缺陷。 |
申请公布号 |
CN101770093B |
申请公布日期 |
2012.07.11 |
申请号 |
CN200910104844.X |
申请日期 |
2009.01.07 |
申请人 |
深圳华映显示科技有限公司 |
发明人 |
丘向忠;王年坤;袁洪晓 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
深圳中一专利商标事务所 44237 |
代理人 |
张全文 |
主权项 |
一种液晶面板面内缺陷的检测装置,其特征在于:包括用于放置液晶面板的一工作台以及一悬设于所述工作台上方的施压设备;所述工作台包括若干平行排列的下滚轮,所述下滚轮组成一用于放置液晶面板且可驱动液晶面板移动的轨道;所述施压设备为一悬设于所述轨道上方的滚压设备,所述滚压设备包括一上滚轮、一连接所述上滚轮的支架以及一可检测到液晶面板上的胶框位置的传感器。 |
地址 |
518000 广东省深圳市宝安区光明高新技术产业园区塘明大道9号 |