发明名称 一种测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法
摘要 本发明的一种测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法,特别涉及一种内置法测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法,属于真空计量技术领域。将一个外接容器与变容室相连,外接容器与变容室抽真空本底,向变容室中通入气体,而后膨胀到外接容器并平衡,向变容室中通入气体,而后膨胀到外接容器并平衡,完成对内置法测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法。本发明方法采用等温膨胀技术,在工作环境下,将变容室容积的测量标准转化为可以精确测量的圆柱体容积,提高测量精度;测量过程中避免了使用水介质传递测量。
申请公布号 CN101718574B 申请公布日期 2012.07.11
申请号 CN200910259325.0 申请日期 2009.12.17
申请人 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所 发明人 冯焱;李得天;赵澜;张涤新;盛学民;李正海
分类号 G01F25/00(2006.01)I 主分类号 G01F25/00(2006.01)I
代理机构 北京理工大学专利中心 11120 代理人 张利萍
主权项 一种测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法,其特征在于:1)将外接容器与变容室通过真空阀门相连,另一段密封,外接容器的容积v1为变容室容积v的1.5倍;2)对外接容器与变容室抽真空至本底,真空度小于0.01Pa,向变容室中通入压力为p1的气体,p1的值通过压力计测量;而后气体膨胀到外接容器,平衡后压力为p2,p2的值通过压力计测量;3)将外接容器的另一端打开,装入已知容积为v2的圆柱体,然后密封并对变容室及外接容器抽真空至本底,真空度小于0.01Pa;4)向变容室中通入压力为p3的气体,p3的值通过压力计测量;而后气体膨胀到外接容器,平衡后压力为p4,p4的值通过压力计测量;则变容室容积为 <mrow> <mi>V</mi> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <msub> <mi>p</mi> <mn>2</mn> </msub> <msub> <mi>p</mi> <mn>4</mn> </msub> <msub> <mi>V</mi> <mn>2</mn> </msub> </mrow> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>p</mi> <mn>1</mn> </msub> <msub> <mi>p</mi> <mn>4</mn> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>p</mi> <mn>3</mn> </msub> <msub> <mi>p</mi> <mn>3</mn> </msub> <mo>)</mo> </mrow> </mfrac> <mo>.</mo> </mrow>
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