发明名称 | 用于光学元件检测的改进水平基座结构 | ||
摘要 | 一种用于光学元件检测的改进水平基座结构,本实用新型的技术方案是:一种用于光学元件检测的改进水平基座结构,它包括光学平晶或金属制水平平台、至少三个钢珠或一个铜环,固定在所述光学平晶或金属制水平平台上;还包括靠体,固定在所述光学平晶或金属制水平平台上位于靠近钢珠或铜环的位置。被测元件与光学平晶或金属制水平平台之间为点接触,能有效地减少对被测光学元件表面光洁度的伤害。 | ||
申请公布号 | CN202329663U | 申请公布日期 | 2012.07.11 |
申请号 | CN201120465312.1 | 申请日期 | 2011.11.22 |
申请人 | 北京创思工贸有限公司 | 发明人 | 李国彬;武锐;赵莹 |
分类号 | G01D11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01D11/00(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种用于光学元件检测的改进水平基座结构,其特征在于:它包括光学平晶或金属制水平平台,至少三个钢珠或一个铜环,固定在所述光学平晶或金属制水平平台上;还包括靠体,固定在所述光学平晶或金属制水平平台上位于靠近钢珠或铜环的位置。 | ||
地址 | 101113 北京市通州区工业开发区广源东街6号 |