发明名称 具有负微分电阻特性的混合SET/CMOS电路
摘要 本发明涉及集成电路技术领域,特别是一种具有负微分电阻特性的混合SET/CMOS电路,包括一单电子晶体管SET及一PMOS管,所述的PMOS管的源极与SET的源极相连,SET的栅极则与PMOS管的漏极相连,该SET的漏源两端电压Vds必须满足|Vds|<e/CΣ,其中,CΣ为总电容,e为元电荷。本发明主要是利用SET的库仑阻塞和库仑振荡特性与传统的CMOS相结合,产生具有nA级电流的NDR特性。与传统的共振隧穿二极管(RTD)相比,本发明采用的单电子晶体管和MOS管,与当前集成电路工艺的兼容性更好;而与具有NDR特性的MOS管组成的电路相比,本发明仅仅使用了两个晶体管,因此具有更小的电路面积。
申请公布号 CN102571068A 申请公布日期 2012.07.11
申请号 CN201210047925.2 申请日期 2012.02.29
申请人 福州大学 发明人 魏榕山;陈寿昌;陈锦锋;何明华
分类号 H03K19/0185(2006.01)I 主分类号 H03K19/0185(2006.01)I
代理机构 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人 蔡学俊
主权项 一种具有负微分电阻特性的混合SET/CMOS电路,其特征在于:包括一单电子晶体管SET及一PMOS管,其中单电子晶体管SET由两个隧穿结通过库仑岛串联而成,外加的偏置电压由栅极电容耦合到库仑岛上,所述的PMOS管的源极与单电子晶体管SET的源极相连,单电子晶体管SET的栅极与PMOS管的漏极相连。
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