| 发明名称 | 一种碳素材料中Si含量的测定分析方法 | ||
| 摘要 | 一种碳素材料中Si含量的测定分析方法，其特征在于，用无水碳酸钠或/和硼酸作溶剂，将碳素材料灼烧后的灰分进行熔融后，再用稀盐酸溶液浸取出试液，调试液PH值后加入钼酸铵使硅形成硅钼杂多酸，在高酸度硫酸介质中经还原剂还原成硅钼蓝，用比色法分析确定Si含量。提供一种操作方法简单、准确性高的碳素材料中Si含量的测定分析方法。 | ||
| 申请公布号 | CN102564961A | 申请公布日期 | 2012.07.11 |
| 申请号 | CN201010598024.3 | 申请日期 | 2010.12.21 |
| 申请人 | 湖南晟通科技集团有限公司 | 发明人 | 吴玉华;金汉卿 |
| 分类号 | G01N21/25(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/25(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种碳素材料中Si含量的测定分析方法，其特征在于，用无水碳酸钠或/和硼酸作熔剂，将碳素材料灼烧后的灰分进行熔融后，再用稀盐酸溶液浸取出试液，调节试液PH值后加入钼酸铵使硅形成硅钼杂多酸，在高酸度硫酸介质中经还原剂还原成硅钼蓝，用比色法分析确定Si含量。 | ||
| 地址 | 410200 湖南省长沙市金星路109号晟通工业园 | ||