发明名称 干涉式高密度圆光栅偏心检测装置
摘要 干涉式高密度圆光栅偏心检测装置涉及精密仪器检测领域,该检测装置包括一号激光器(1)、一号准直镜(2)、副光栅盘(4)、一号光电接收器(5)、二号光电接收器(6)、二号准直镜(7)、二号激光器(8)、主轴(9)、轴套(10)、光栅连接座(11)和示波器。利用光栅盘使单束光线发生两次衍射后再发生干涉,光电接收器接收干涉条纹信号后可以在示波器中得到正弦信号,根据不同相位正弦信号的合成,即可检测出主光栅盘偏心位置及偏心量。本发明可以检测密度高于125线对/mm的计量光栅盘,使编码器光机结构的机械装调方便,使光栅计量系统体积减小,结构简单化。
申请公布号 CN102564308A 申请公布日期 2012.07.11
申请号 CN201110451038.7 申请日期 2011.12.29
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 艾华;曹艳波
分类号 G01B11/00(2006.01)I;G01B11/27(2006.01)I 主分类号 G01B11/00(2006.01)I
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人 南小平
主权项 干涉式高密度圆光栅偏心检测装置,其特征在于,该检测装置包括一号激光器(1)、一号准直镜(2)、副光栅盘(4)、一号光电接收器(5)、二号光电接收器(6)、二号准直镜(7)、二号激光器(8)、主轴(9)、轴套(10)、光栅连接座(11)和示波器;待检测的主光栅盘(3)固定在主轴(9)的平台上,副光栅盘(4)固定在光栅连接座(11)上;光栅连接座(11)固定在轴套(10)上,光栅连接座(11)与轴套(10)同轴;轴套(10)与主轴(9)同轴,通过轴承动连接;副光栅盘(4)与主轴(9)通过光栅连接座(11)和轴套(10)实现同轴;一号激光器(1)与二号激光器(8)、以及一号准直镜(2)与二号准直镜(7)分别对径安装于主光栅盘(3)下面的轴套位置,并呈轴心对称;一号光电接收器(5)和二号光电接收器(6)分别置于副光栅盘(4)的上方;示波器分别与一号光电接收器(5)和二号光电接收器(6)连接;一号激光器(1)发出的激光经过一号准直镜(2)后变为平行光,垂直入射到主光栅盘(3)中,经过主光栅盘(3)的一次衍射和副光栅盘(4)的二次衍射后,产生干涉条纹,干涉条纹经过一号光电接收器(5)转换为电信号后,由示波器接收,得到主光栅盘(3)的位移正弦信号;二号激光器(8)发出的激光经过二号准直镜(7)后变为平行光,垂直入射到主光栅盘(3)中,经过主光栅盘(3)的一次衍射和副光栅盘(4)的二次衍射后,产生干涉条纹,干涉条纹经过二号光电接收器(6)转换为电信号后,由示波器接收,得到主光栅盘(3)的位移正弦信号;根据示波器中不同相位正弦信号的合成,能够得出主光栅盘(3)的偏心位置和偏心量。
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