发明名称 衬底、外延片及半导体器件
摘要 本实用新型公开了一种衬底,包括衬底本体,其特征在于,所述衬底本体背面设置有第一二氧化硅层;在第一二氧化硅层表面设置有多晶硅层;多晶硅层表面设置有第二多晶硅层。本实用新型的另一个优点是能够提高外延片的平坦度,且可提高外延层的电阻率均匀性。
申请公布号 CN202332857U 申请公布日期 2012.07.11
申请号 CN201120375288.2 申请日期 2011.09.30
申请人 上海晶盟硅材料有限公司 发明人 顾昱;钟旻远;林志鑫;陈斌
分类号 H01L29/36(2006.01)I 主分类号 H01L29/36(2006.01)I
代理机构 上海脱颖律师事务所 31259 代理人 李强
主权项 衬底,包括衬底本体,其特征在于,所述衬底本体背面设置有第一二氧化硅层;在第一二氧化硅层表面设置有多晶硅层;多晶硅层表面设置有第二多晶硅层。
地址 201707 上海市青浦区北青公路8228号二区48号