发明名称 TSV通孔研磨清洗后的干燥方法及干燥设备
摘要 本发明提供一种TSV通孔研磨清洗后的干燥方法及干燥设备,通过使加热且流动的惰性气体吹向晶圆的TSV通孔,使存在于TSV通孔内部的水分得到充分的干燥,从而可避免残留于TSV通孔内的水分对TSV通孔进行腐蚀,可有效提高器件的可靠性。
申请公布号 CN102569024A 申请公布日期 2012.07.11
申请号 CN201010620317.7 申请日期 2010.12.29
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 陈枫
分类号 H01L21/02(2006.01)I;H01L21/00(2006.01)I;B24B37/00(2012.01)I;F26B3/02(2006.01)I 主分类号 H01L21/02(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅;李时云
主权项 一种TSV通孔研磨清洗后的干燥方法,包括以下步骤:提供一具有TSV通孔的晶圆,所述TSV通孔经历过填充但并未被填满,所述晶圆在经历所述TSV通孔填充后还经历去除所述晶圆上TSV通孔外部的沉积膜层的化学机械研磨,其后所述晶圆还经历清洗;对所述晶圆进行异丙醇气相干燥,去除所述晶圆表面残留的液体;对所述晶圆进行加热惰性气体干燥,将所述晶圆置于被加热且流动的惰性气体氛围中,通过所述惰性气体使所述晶圆TSV通孔内部的残留液体得到蒸发去除。
地址 201203 上海市张江路18号