发明名称 |
薄层沉积方法 |
摘要 |
本发明涉及用于获得一种基材的方法,这种基材在它的至少一部分表面上涂覆有至少一个金属M的氧化物层,该氧化物层的物理厚度小于或等于30nm,所述氧化物层不被包括在含至少一个银层的层堆叠体中。所述方法包括以下步骤:通过阴极溅射沉积至少一个由选自以下的材料制成的中间层:金属M、金属M氮化物、金属M碳化物和金属M的亚化学计量氧的氧化物,所述中间层不沉积在基于二氧化钛的层的上面或者下面,所述中间层的物理厚度小于或等于30nm;使用热处理氧化所述中间层的至少一部分表面,在该热处理期间使所述中间层与氧化性气氛,特别地与空气直接接触,在所述热处理期间所述基材的温度不超过150℃。 |
申请公布号 |
CN102574731A |
申请公布日期 |
2012.07.11 |
申请号 |
CN201080044800.3 |
申请日期 |
2010.09.30 |
申请人 |
法国圣戈班玻璃厂 |
发明人 |
A.卡申科;A.迪朗多;N.纳多 |
分类号 |
C03C17/00(2006.01)I;C03C17/245(2006.01)I;C23C14/58(2006.01)I |
主分类号 |
C03C17/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
黄念;林森 |
主权项 |
用于获得一种基材的方法,这种基材在它的至少一部分表面上涂覆有至少一个金属M的氧化物层,该氧化物层的物理厚度小于或等于30nm,所述氧化物层不被包括在含至少一个银层的层堆叠体中,所述方法包括以下步骤:‑通过阴极溅射沉积至少一个由选自以下的材料制成的中间层:金属M、金属M氮化物、金属M碳化物或金属M的亚化学计量氧的氧化物,所述中间层不被沉积在基于二氧化钛的层的上面或者下面,所述中间层的物理厚度小于或等于30nm;‑使用热处理氧化所述中间层的至少一部分表面,在该热处理期间使所述中间层与氧化性气氛,特别地与空气直接接触,在所述热处理期间所述基材的温度不超过150℃。 |
地址 |
法国库伯瓦 |