发明名称 一种基于二分法的故障测试向量的定位方法
摘要 本发明公开了一种基于二分法的故障测试向量的定位方法,包括如下步骤:将测试向量加载到待测电路上,输出对应测试向量的特征序列值;通过响应压缩器得到期望特征序列值,并将其与实际测得的特征序列值作比较;如果两者结果不一致,说明此待测电路可能检测到某些故障点,并随后将上述测试向量集合大致相等地划分为第一子集合与第二子集合;将第一子集合作为新的测试对象,直到找到导致测试失败的第一个故障测试向量;整理未被定位的测试向量,将其作为一个全新的测试向量集合,重复以上步骤,直到所有的故障测试向量均被找到。本发明的定位方法对测试向量集合进行划分,然后分别测试,极大的减少了测试次数,效率高。
申请公布号 CN102565682A 申请公布日期 2012.07.11
申请号 CN201010587163.6 申请日期 2010.12.14
申请人 苏州工业园区谱芯科技有限公司 发明人 唐飞
分类号 G01R31/317(2006.01)I;G01R31/3177(2006.01)I 主分类号 G01R31/317(2006.01)I
代理机构 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 代理人 杨林洁
主权项 一种基于二分法的故障测试向量的定位方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:将待测电路连接到测试台;S2:配置测试向量生成器和响应压缩器的种子序列及测试向量的数目,以生成若干测试向量,所有的测试向量组成测试向量集合,用以对待测电路进行检测;S3:将测试向量加载到待测电路上,直到所有的测试向量测试完成;S4:输出步骤S3中对应测试向量的特征序列值;S5:通过响应压缩器得到期望特征序列值,并将其与步骤S4中实际测得的特征序列值作比较;S6:如果两者结果一致,说明此待测电路通过当前的测试向量集合的测试,未能够检测到任何故障点;S7:如果两者结果不一致,则将上述测试向量集合划分为第一子集合与第二子集合;S8:将第一子集合作为新的测试对象,重复步骤S2至S7,直到找到导致测试失败的第一个故障测试向量;S9:整理未被定位的测试向量,将其作为一个全新的测试向量集合,重复步骤S2至S8,直到所有的故障测试向量均被找到。
地址 215000 江苏省苏州市苏州工业园区星汉街5号B幢4楼16单元
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