发明名称 光学分析器
摘要 本发明公开一种光学分析器,该光学分析器能够以优良的空间分辨率和侵入深度进行分析。所述光学分析器包括:诊断光源部分,其包括输出种子光的种子光源和石英光纤,所述种子光输入所述石英光纤中,所述石英光纤利用非线性光学现象产生具有HE11模场图的诊断光;照射光学系统,其会聚所述诊断光并使用所述诊断光照射检测对象;捕捉光学系统,其捕捉由于使用所述诊断光进行照射而在检测对象上产生的物体光;光谱测量部分,其接收所述物体光并测量所述物体光的频谱;存储部分,其存储已知物质的频谱信息;以及运算部分,其计算所述物体光的频谱和所述已知物质的频谱之间的一致度并且根据计算结果分析所述检测对象。
申请公布号 CN101371130B 申请公布日期 2012.07.11
申请号 CN200780002668.8 申请日期 2007.01.18
申请人 住友电气工业株式会社 发明人 长谷川健美
分类号 G01N21/65(2006.01)I 主分类号 G01N21/65(2006.01)I
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人 顾红霞;龙涛峰
主权项 一种光学分析器,包括:(1)诊断光源部分,其包括输出种子光的种子光源和石英光纤,所述种子光输入所述石英光纤中,所述石英光纤具有20[W‑1km‑1]或更大的非线性系数并且利用非线性光学现象产生作为超连续光的具有HE11模场图的诊断光并输出所述诊断光;(2)照射光学系统,其会聚所述诊断光并使用所述诊断光照射检测对象;(3)捕捉光学系统,其捕捉由于使用所述诊断光进行照射而在检测对象上产生的物体光;(4)光谱测量部分,其接收所述物体光并测量所述物体光的频谱;(5)存储部分,其存储已知物质的频谱信息;以及(6)运算部分,其计算所述物体光的频谱和所述已知物质的频谱之间的一致度并且根据计算结果分析所述检测对象,其中,在所述诊断光源部分的光纤的至少一部分中光功率的空间密度是1mW/μm2或更大,并且所述诊断光源部分输出在从0.8μm至3.0μm的光谱带的至少一部分内具有光功率为1μW/nm或更大的诊断光,所述诊断光源部分的种子光源包括泵浦脉冲源,在所述诊断光源部分中,当从所述泵浦脉冲源输出的泵浦脉冲光在所述光纤中传播时利用非线性光学效应扩展所述泵浦脉冲光的光谱,从而将所述泵浦脉冲光作为所述诊断光输出,所述捕捉光学系统捕捉由于使用所述诊断光照射而在所述检测对象上产生损失的诊断光作为物体光,所述已知物质的频谱是损失光谱,并且所述运算部分计算所述物体光的频谱和所述损失光谱之间的一致度并根据计算结果分析所述检测对象。
地址 日本大阪府