| 发明名称 | 一种单光束互相关高浓度纳米颗粒测量装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及一种单光束互相关高浓度纳米颗粒测量装置，激光器发射的光束依次经过起偏器、透镜聚焦到样品池，样品池发出的与入射光路成90度的散射光经过第一针孔光阑后通过对称二分支光功率分配器后分离成两路光路，两路光路分别经过第二针孔光阑和第三针孔光阑后通过滤光片，两个光电探测器分别采集接收光路的两路光后送数字相关器处理。此装置有效的去除杂散光的影响，提高系统的相干性，降低系统的信噪比；测量精度高、速度快，并可进行在线测量；装置的成本低；易于维护，可以方便的购买到替换的部件。 | ||
| 申请公布号 | CN202330223U | 申请公布日期 | 2012.07.11 |
| 申请号 | CN201120458214.5 | 申请日期 | 2011.11.18 |
| 申请人 | 上海理工大学 | 发明人 | 邢世通;杨晖;郑刚 |
| 分类号 | G01N15/02(2006.01)I | 主分类号 | G01N15/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人 | 吴宝根 |
| 主权项 | 一种单光束互相关高浓度纳米颗粒测量装置，其特征在于，包括激光器（1）、起偏器（2）、透镜（3）、样品池（4）、三个针孔光阑（5、7、8）、对称二分支光功率分配器（6）、滤光片（9）、两个光电探测器（10、11）、数字相关器（12），激光器（1）发射的光束依次经过起偏器（2）、透镜（3）聚焦到样品池（4），组成入射光路；样品池（4）发出的与入射光路成90度的散射光经过第一针孔光阑（5）后通过对称二分支光功率分配器（6）后分离成两路光路，两路光路分别经过第二针孔光阑（7）和第三针孔光阑（8）后通过滤光片（9），组成接收光路；两个光电探测器（10、11）分别采集接收光路的两路光后送数字相关器（12）处理。 | ||
| 地址 | 200093 上海市杨浦区军工路516号 | ||