发明名称 MgZnO日盲光敏电阻器及其制备方法
摘要 MgZnO日盲光敏电阻器及其制备方法,属于光电子信息领域,主要用于产生低偏压、高响应的日盲光敏电阻器。解决了大组份Mg的MgZnO制备的相分离问题。MgZnO薄膜制备日盲光敏电阻器是在R面蓝宝石衬底生长第一层MgxZn1-xO过渡层、第二层MgyZn1-yO过渡层、高组份Mg的MgZZn1-ZO薄膜和电极。步骤一 将清洗过的R面蓝宝石衬底传入MBE预生长室;步骤二R面蓝宝石衬底在预生长室750-850℃处理15-30分钟;步骤三R面蓝宝石衬底传入生长室,在生长温度400-500℃下生长第一层2-10nm厚的MgxZn1-xO过渡层,其中X=0.16-0.20;接着在相同生长温度下生长第二层2-10nm厚的MgyZn1-yO过渡层,其中Y=0.26-0.40;步骤四 在生长温度400-500℃下,生长MgZZn1-ZO薄膜,其中Z=0.43-0.55;步骤五在MgZZn1-ZO薄膜上,制备厚度100-150nm的金属电极,其中金属材料是Al、Au、Pt。制备工艺简单、成本低。
申请公布号 CN102569483A 申请公布日期 2012.07.11
申请号 CN201110427751.8 申请日期 2011.12.19
申请人 北京交通大学 发明人 张希清;刘凤娟;胡佐富;黄海琴;王永生
分类号 H01L31/08(2006.01)I;H01L31/032(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I 主分类号 H01L31/08(2006.01)I
代理机构 北京市商泰律师事务所 11255 代理人 毛燕生
主权项 一种MgZnO日盲光敏电阻器,其特征在于:MgZnO薄膜制备日盲光敏电阻器是在R面蓝宝石衬底生长低组份Mg的第一层MgxZn1‑xO过渡层、第二层MgyZn1‑yO过渡层、高组份Mg的MgZZn1‑ZO薄膜和电极。
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