发明名称 | 一种化学机械抛光液 | ||
摘要 | 本发明揭示了一种用于浅沟槽隔离抛光工艺的抛光液,它含有一种硅基磨料,阴离子型表面活性剂和水,该抛光液具有较高的高密度二氧化硅(HDP-Oxide)的去除速率以及较高的对氮化硅的去除速率选择比,抛光后的晶圆具有完好的表面形貌和较低的表面污染物残留。 | ||
申请公布号 | CN102559058A | 申请公布日期 | 2012.07.11 |
申请号 | CN201010604014.6 | 申请日期 | 2010.12.21 |
申请人 | 安集微电子(上海)有限公司 | 发明人 | 姚颖;宋伟红;孙展龙 |
分类号 | C09G1/02(2006.01)I | 主分类号 | C09G1/02(2006.01)I |
代理机构 | 上海翰鸿律师事务所 31246 | 代理人 | 李佳铭 |
主权项 | 一种化学机械抛光液,该抛光液包含一种二氧化硅磨料,一种阴离子型表面活性剂和水。 | ||
地址 | 201203 上海市浦东新区张江高科技园区龙东大道3000号5号楼613-618室 |