发明名称 |
一种关键尺寸扫描电子显微镜的样品结构和测量方法 |
摘要 |
本发明提供了一种关键尺寸扫描电子显微镜的样品结构和测量方法,该方法在样品上添加一个位置固定的辅助图案,在测量该样品的关键尺寸时,通过抓取该辅助图案为模板,建立辅助图案与样品上待测图案的相对位置坐标的关系和设置CD recipe,使测量待测图案时,CDSEM能够在样品上查找与辅助图案,然后以辅助图案的坐标为基准,根据辅助图案与样品上待测图案的相对位置坐标的关系,实现待测图案的准确定位和CD recipe的重复可用,提高CDSEM测量的效率。 |
申请公布号 |
CN102569258A |
申请公布日期 |
2012.07.11 |
申请号 |
CN201010580636.X |
申请日期 |
2010.12.09 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
王辉;王伟斌 |
分类号 |
H01L23/544(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/544(2006.01)I |
代理机构 |
北京德琦知识产权代理有限公司 11018 |
代理人 |
牛峥;王丽琴 |
主权项 |
一种关键尺寸扫描电子显微镜的样品结构,其特征在于,该样品结构包括:辅助图案和待测图案,且所述辅助图案与待测图案的相对位置坐标固定不变。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |