发明名称 一种关键尺寸扫描电子显微镜的样品结构和测量方法
摘要 本发明提供了一种关键尺寸扫描电子显微镜的样品结构和测量方法,该方法在样品上添加一个位置固定的辅助图案,在测量该样品的关键尺寸时,通过抓取该辅助图案为模板,建立辅助图案与样品上待测图案的相对位置坐标的关系和设置CD recipe,使测量待测图案时,CDSEM能够在样品上查找与辅助图案,然后以辅助图案的坐标为基准,根据辅助图案与样品上待测图案的相对位置坐标的关系,实现待测图案的准确定位和CD recipe的重复可用,提高CDSEM测量的效率。
申请公布号 CN102569258A 申请公布日期 2012.07.11
申请号 CN201010580636.X 申请日期 2010.12.09
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 王辉;王伟斌
分类号 H01L23/544(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I 主分类号 H01L23/544(2006.01)I
代理机构 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人 牛峥;王丽琴
主权项 一种关键尺寸扫描电子显微镜的样品结构,其特征在于,该样品结构包括:辅助图案和待测图案,且所述辅助图案与待测图案的相对位置坐标固定不变。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号