发明名称 硅蚀刻液和蚀刻方法
摘要 本发明提供一种蚀刻液和蚀刻方法,在硅的蚀刻加工中,特别是半导体或MEM S部件的制造工序中的硅的各向异性蚀刻加工中,通过抑制含有羟基胺的蚀刻液所特有的、液体中存在Cu时所发生的Si蚀刻速度的降低,从而表现出较高的蚀刻速度。本发明涉及一种硅蚀刻液,其特征在于,其为含有碱性氢氧化物、羟基胺和硫脲类的碱性水溶液,且各向异性地溶解单晶硅;另外涉及使用该蚀刻液的硅的蚀刻方法。
申请公布号 CN102576674A 申请公布日期 2012.07.11
申请号 CN201080044830.4 申请日期 2010.09.29
申请人 三菱瓦斯化学株式会社 发明人 藤音喜子;外赤隆二
分类号 H01L21/308(2006.01)I 主分类号 H01L21/308(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇;李茂家
主权项 一种硅蚀刻液,其特征在于,该硅蚀刻液各向异性地溶解单晶硅,其为含有(1)选自氢氧化钾、氢氧化钠和氢氧化四甲铵中的1种以上碱性氢氧化物、(2)羟基胺和(3)硫脲类的碱性水溶液。
地址 日本东京都