适合于谱分析的测量元件

摘要

本发明提供一种适合于气体样品的谱分析的测量元件(1)，其中该测量元件被设计成和适合于，通过所发射光束从指派给测量元件内腔的多个反射面(M1-M6)的多次反射，将从产生红外光的装置(4)发射的会聚光束和/或发散光束在朝向接收红外光的装置(5)的方向上调节，从而允许在测量元件(1)的内腔(1c)中建立预定的、从产生红外光的装置(4)到接收红外光的装置(5)的测量距离(“L”)。所述测量元件的内腔(1c)适合于包含旨在用于光谱分析吸收测量的气体样品(“G”)，此外，来自产生红外光的装置(4)的光束通过反射面(M7)会聚地指向第一反射面(M1)和/或可在第一反射面(M1)上调整，例如可反射，以便当通过第一焦点(“F1”)作为发散光束反射时，变成指向定型为凹形反射面(M2)的第二反射面，以及通过第三反射面(M3)和第四反射面(M4、M5和M6)会聚到位于接收光的装置(5)上的或者其附近的焦点(“F3”)上，以便形成紧凑的测量元件(1)。

主权项

一种测量元件，可适合于气体样品的谱分析并且具有用于与载体电气配合和机械配合的装置，所述载体为例如具有印刷布线的板卡；其中所述测量元件被设计成和适合于，通过允许利用自产生光的装置发射的光束从指派给所述测量元件的内腔的多个反射面的多次反射，允许将所述发射的光束在朝向接收光的装置的方向上调节，从而允许在所述测量元件的内腔中建立预定的光学测量距离，例如从所述产生光的装置到所述接收光的装置的光学测量距离；并且其中所述测量元件的内腔适合于允许包含旨在用于光谱分析吸收测量的所述气体样品，并且其中所述测量元件的内腔及所述内腔的体积受分配给所述测量元件的第一部分和分配所述测量元件的第二部分限制，所述第一部分呈底部形式，所述第二部分为例如上部，所述第一部分与所述第二部分配合；并且其中所述第一部分和/或所述第二部分是指派的凹槽和/或底座，其中所指派的凹槽可适合于由所述产生光的装置产生的光束通过以及被指派一朝向所述接收光的装置的方向的光束通过，同时所指派的底座是可调整的，以便能够完全地或部分地支撑所述产生光的装置和/或所述接收光的装置，此外来自所述产生光的装置的光束指向第一反射面(M1)和/或可在所述第一反射面(M1)上调整，例如可反射，以便从而反射成指向第二反射面(M2)，所述第二反射面(M2)定型为第一凹形反射面，其特征在于：所述第一部分(11)适合于靠在所述载体(3，13)上，在所述第一部分(11)的可面向所述载体的第一表面(11a)内，所述第一部分(11)形成有一个或两个凹槽(14)或底座，以便允许完全地或部分地包围至少所述产生光的装置(4)，并且在所述载体(3)的可面向所述第一部分(11)的第一表面(3a)内，所述载体(3)形成有一个或两个凹槽(16)或底座，以便允许完全地或部分地包围至少所述产生光的装置(4)，并且反射光的所述第一反射面(M1)适合于允许使所产生的光指向第一平面 (P1)，所述第一平面(P1)与指派给所述产生光的装置(4)的第二平面(P2)分离。