发明名称 PRÜFVERFAHREN
摘要 <p>Zum Prüfen einer Platine wird zuerst ein Messbereich auf einer Platine eingestellt, und Referenzdaten und Messdaten des Messbereichs werden erfasst. Dann wird durch eine Blockeinheit eine Mehrzahl von Merkmalsblöcken erstellt, um eine vorbestimmte Form in den Messbereich einzubeziehen, und durch Vermischen von Merkmalsblöcken, die sich in den Merkmalsblöcken überlappen, wird ein vermischter Block erstellt. Danach wird durch Vergleichen von Referenzdaten und Messdaten, die einem Merkmalsblock mit Ausnahme des vermischten Blocks und/oder dem vermischten Block entsprechen, ein Verzerrungsgrad erfasst, und der Verzerrungsgrad wird kompensiert, um einen Prüfbereich im Zielmessbereich einzustellen. Somit kann ein Prüfbereich, in dem die Verzerrung kompensiert wird, korrekt eingestellt werden.</p>
申请公布号 DE102011086469(A1) 申请公布日期 2012.07.05
申请号 DE20111086469 申请日期 2011.11.16
申请人 KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. 发明人 HWANG, BONG-HA
分类号 G01B11/24;G01N21/956;G01R31/308;H05K13/08 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
主权项
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