发明名称 Halbleitergehäuse und Verfahren zum Herstellen derselben
摘要 Bereitgestellt werden ein Halbleitergehäuse und ein Verfahren zur Herstellung desselben. Gemäß einer Ausführungsform wird zur Herstellung eines Halbleitergehäuses ein Wafer mit darin hergestellten Halbleiterchips bereitgestellt. Eine Wärmesenkeschicht wird auf dem Wafer ausgebildet. Die Wärmesenkeschicht kontaktiert obere Oberflächen der Halbleiterchips. Danach wird die Vielzahl der Halbleiterchips von dem Wafer vereinzelt.
申请公布号 DE102011055013(A1) 申请公布日期 2012.07.05
申请号 DE20111055013 申请日期 2011.11.03
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 CHOI, EUN-KYOUNG;JEONG, SEYOUNG;CHOI, KWANG-CHUL;MIN, TAE HONG;LEE, CHUNGSUN;KIM, JUNG-HWAN
分类号 H01L21/56;H01L21/58;H01L21/78;H01L23/28;H01L23/36;H01L23/50;H01L25/065 主分类号 H01L21/56
代理机构 代理人
主权项
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