发明名称 非易失性存储器件的编程方法
摘要 在根据示例实施例的、对包括多个存储多比特数据的多电平单元的非易失性存储器件的编程方法中,执行最低有效位(LSB)编程操作,以对多个多电平单元中的多比特数据的LSB进行编程。执行最高有效位(MSB)编程操作,以对多个多电平单元中的多比特数据的MSB进行编程。为了执行MSB编程操作,对多个多电平单元当中待被编程到多个目标编程状态当中的最高目标编程状态的第一多电平单元执行MSB预编程操作,并且执行MSB主编程操作,以将多个多电平单元编程到与多比特数据相对应的多个目标编程状态。
申请公布号 CN102543192A 申请公布日期 2012.07.04
申请号 CN201110453269.1 申请日期 2011.12.30
申请人 三星电子株式会社 发明人 张俊锡;郭东勋
分类号 G11C16/10(2006.01)I 主分类号 G11C16/10(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 邵亚丽
主权项 一种非易失性存储器件的编程方法,该非易失性存储器件包括多个存储多比特数据的多电平单元,该方法包括:执行对多个多电平单元中的多比特数据的最低有效位LSB进行编程的LSB编程操作;以及执行对多个多电平单元中的多比特数据的最高有效位MSB进行编程的MSB编程操作,其中,执行MSB编程操作包括:对多个多电平单元当中的、待被编程到多个目标编程状态当中的最高目标编程状态的第一多电平单元执行MSB预编程操作;以及执行将多个多电平单元编程到与多比特数据相对应的多个目标编程状态的MSB主编程操作。
地址 韩国京畿道