发明名称 大功率下S参数监控测试系统
摘要 本实用新型公开了一种大功率下S参数监控测试系统,至少包括网络分析仪,网络分析仪的基准电压输出端连接与低噪声放大器,低噪声放大器的输出与功率放大器连接,放大的信号通过功率计后依次经过第一耦合器、被测设备和第二耦合器。所述第一耦合器的输入端与功率计的输出连接,直通端与被测设备的信号接收端连接,耦合端与基准电压输入端连接,隔离端与第一测试端口连接。所述第二耦合器的输入端与被测设备的信号输出端连接,直通端与第二吸收负载连接,耦合端与第二测试端口连接。本测试系统不仅能够直观观测到产品的驻波,插损趋势的变化,而且能够提取准确的S参数数据,以供后续分析。
申请公布号 CN202305674U 申请公布日期 2012.07.04
申请号 CN201120424487.8 申请日期 2011.10.31
申请人 武汉凡谷电子技术股份有限公司 发明人 张平权;王波
分类号 G01R27/06(2006.01)I;G01R27/26(2006.01)I 主分类号 G01R27/06(2006.01)I
代理机构 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人 黄行军
主权项 一种大功率下S参数监控测试系统,其特征在于包括:网络分析仪,至少包括第一测试端口、第二测试端口、基准电压输入端和基准电压输出端;夹具,至少包括低噪声放大器、功率放大器、功率计、第一耦合器和第二耦合器;所述基准电压输出端与低噪声放大器连接,低噪声放大器的输出与功率放大器连接,放大的信号通过功率计后依次经过第一耦合器、被测设备和第二耦合器。
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