发明名称 |
多层光盘及其记录方法 |
摘要 |
本发明提供一种多层光盘及其记录方法。在具有3层以上记录层的多层光盘中,不削减用户数据区域地确保足够的测试区域,并且恰当地控制各层的激光照射功率来进行记录。使用至少具有第1记录层、和比第1记录层距离光入射面近的第2记录层,在第1记录层中具有由多个小区域构成的第1测试区域,在第2记录层中具有由多个小区域构成的第2测试区域的光盘,预先决定与多个层间的半径位置的相对精度以及光点直径相对应的预定的半径距离L,在第2测试区域中的任意的小区域已进行了测试记录的情况下,把与第2测试区域中的已记录测试区域的半径距离在所述预定的半径距离L的范围内的第1测试区域中的小区域,作为不进行测试记录的小区域。 |
申请公布号 |
CN101908346B |
申请公布日期 |
2012.07.04 |
申请号 |
CN200910171584.8 |
申请日期 |
2009.09.01 |
申请人 |
株式会社日立制作所 |
发明人 |
宫本治一;渡边康一;永井裕;西村孝一郎;安川贵清 |
分类号 |
G11B7/0045(2006.01)I;G11B7/24(2006.01)I |
主分类号 |
G11B7/0045(2006.01)I |
代理机构 |
北京银龙知识产权代理有限公司 11243 |
代理人 |
许静 |
主权项 |
一种多层光盘的记录方法,使用具有3层以上的可擦写型或可写型信息记录层,在多个信息记录层中至少具有第1记录层、和比第1记录层距离光入射面近的第2记录层,在第1记录层中具有由多个小区域构成的第1测试区域,在第2记录层具有由多个小区域构成的第2测试区域的光盘,所述多层光盘的记录方法的特征在于,预先决定预定的半径距离L,在所述第2测试区域中的任意的小区域已进行了测试记录的情况下,把与第2测试区域中的已测试记录区域的半径距离在所述预定的半径距离L的范围内的第1测试区域中的小区域,作为不进行测试记录的小区域。 |
地址 |
日本东京都 |