一种用于半导体材料磁输运测试的样品杆

摘要

本实用新型公开了一种用于半导体材料磁输运测试的样品杆，它用于研究极低温下微波辐照对材料电学特性和自旋特性的影响。样品杆由不锈钢管、波导管及转接口、同轴电缆及转接口、测试引线及插座，样品架、密封套和抽气口等组成。系统的主要特征在于将波导管和同轴电缆引入样品杆内，波导管和同轴电缆分别将高频和低频微波导入到样品处；波导管选用高强度、低热导率的碳纤维复合材料管，实现了样品温度在极低温下的稳定。该系统为极低温、强磁场中微波辐照下磁输运测试和自旋共振研究提供了有力的研究工具。

主权项

一种用于半导体材料磁输运测试的样品杆，包括：不锈钢管(101)、接口盒(102)、同轴波导转换口(103)、同轴电缆接口(104)、测试引线接口(105)、接口盒抽气口(106)、波导管(107)、同轴电缆(108)、测试引线(109)、密封套(110)、密封套橡胶圈(111)、密封套法兰盘(112)、密封套抽气口(113)、固定支架(114)、样品架(115)和样品插槽(116)，其特征在于：所述的不锈钢管(101)顶部与所述的接口盒(102)密封焊接，所述的同轴波导转换口(103)、所述的同轴电缆接口(104)、所述的测试引线接口(105)和所述的接口盒抽气口(106)安装于接口盒(102)侧壁，所述的波导管(107)、所述的同轴电缆(108)和所述的测试引线(109)从不锈钢管(101)中平行通过，所述的非磁性不锈钢制成的密封套(110)套在不锈钢管(101)上并可以自由滑动，其上端与不锈钢管(101)通过密封套橡胶圈(111)密封，下端为密封套法兰盘(112)，侧壁安装有密封套抽气口(113)，固定支架(114)塞紧于不锈钢管(101)的底部，其上部固定住波导管(107)，下部通过螺栓与样品架(115)相连，同轴电缆(108)穿过固定支架(114)上的孔将微波信号引入样品架(115)，测试引线(109)穿过固定支架(114)上的孔连接在样品插槽(116)上。