一种针对SRAM型FPGA的随机翻转故障注入方法

摘要

本发明公开了一种针对SRAM型FPGA的随机翻转故障注入方法，针对采用SRAM型FPGA实现的电路，利用其动态重配置的优点，通过翻转比特位即可人为的在FPGA中引入与单粒子翻转同等效力的故障，一方面对设计电路配置存储单元执行多位随机故障注入，替代辐射模拟，从而对电路设计防护手段的有效性进行评测；另一方面通过单位随机故障注入，累积翻转直到出现功能性错误，从而得到配置存储单元的刷新周期。

主权项

一种针对SRAM型FPGA的随机翻转故障注入方法，其特征在于，针对多位随机翻转方式，包括以下几个步骤：步骤一：初始配置；测试开始后，首先控制器对被测芯片进行初始化配置；步骤二：设定模拟辐射剂量和模拟辐射时间；用户设定模拟辐射剂量和模拟辐射时间；步骤三：确定翻转比特位，并且，随机翻转M位比特位；上位机根据用户设定的模拟辐射剂量和模拟辐射时间，确定翻转比特位的数量为M，选择以当前系统时间为种子的随机函数，确定翻转位的随机位置，上位机发送随机翻转指令，控制器根据指令对被测芯片配置数据进行M位随机翻转，再将翻转位所在数据帧重配置到被测芯片，完成动态重配置；步骤四：得到被测芯片输出结果；动态重配置完成后，比较被测芯片输出结果和预知的正确结果，对被测芯片进行评测。