发明名称 | 在斜缘附近成形气体分布的方法和设备 | ||
摘要 | 提供一种在处理室中蚀刻基片斜缘的方法。该方法包括将惰性气体流进限定在该基片中心区域上方的该处理室中心区域,将惰性气体和处理气体的混合物流到该基片的边缘区域上方。该方法进一步包括在该边缘区域中激发等离子,其中该惰性气体的流量以及该混合物的流量维持该处理气体的质量分数基本上不变。还提供一种构造为清洁基片斜缘的处理室。 | ||
申请公布号 | CN101816065B | 申请公布日期 | 2012.07.04 |
申请号 | CN200880110444.3 | 申请日期 | 2008.09.30 |
申请人 | 朗姆研究公司 | 发明人 | 杰克·陈;安德鲁·D·贝利三世;伊克巴尔·沙瑞芙 |
分类号 | H01L21/3065(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/3065(2006.01)I |
代理机构 | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人 | 周文强;李献忠 |
主权项 | 一种在处理室中蚀刻基片斜缘的方法,包括:将惰性气体流进限定在该基片中心区域上方的该处理室的中心区域;将惰性气体和处理气体的混合物流到该基片的边缘区域上方;在该边缘区域中激发等离子,其中,流进该中心区域的该惰性气体的流量和该混合物的流量维持该处理气体的质量分数在0.1至0.2之间。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |