| 发明名称 |
METHOD FOR MEASURING VANADIUM CONTENT IN A TUNGSTEN MATRIX TO WHICH VANADIUM/CHROMIUM-VANADIUM HAS BEEN ADDED |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
EP2357470(A4) |
申请公布日期 |
2012.07.04 |
| 申请号 |
EP20090831468 |
申请日期 |
2009.12.09 |
| 申请人 |
JIANGXI RARE EARTH AND RARE METALS TUNGSTEN GROUP |
发明人 |
HU, YIQI |
| 分类号 |
G01N31/16;G01N21/79;G01N31/22 |
主分类号 |
G01N31/16 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
