发明名称 |
一种具有冗余电路的相变存储器及其实现冗余的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种具有冗余电路的相变存储器,包括P个冗余行或Q个冗余列、信息存储电路、行或列开关选择电路;每一行或列控制线连接有P+1个行开关或Q+1个列开关;第0个行或列开关串联在所在行或列控制线上;第1到第P个行开关或第1到第Q个列开关的一端连接到所在行或列控制线,另一端依次连接到下1到P行或Q列控制线上;每一个行或列开关对应一个信息存储电路;行或列开关选择电路与所有信息存储电路相连;所有信息存储电路与写入电路相连;当测试出存储阵列某一行或列有缺陷时,在信息存储电路存储开关导通或关断信息,并控制对应的行开关或列开关,实现用无缺陷行或列快速替换有缺陷行或列。本发明同时公开了该相变存储器实现冗余的方法。 |
申请公布号 |
CN102543171A |
申请公布日期 |
2012.07.04 |
申请号 |
CN201210036652.1 |
申请日期 |
2012.02.17 |
申请人 |
北京时代全芯科技有限公司 |
发明人 |
李秦;洪红维;王瑞哲;周忠玲;黄崇礼 |
分类号 |
G11C11/56(2006.01)I;G11C5/02(2006.01)I |
主分类号 |
G11C11/56(2006.01)I |
代理机构 |
北京邦信阳专利商标代理有限公司 11012 |
代理人 |
王昭林;项京 |
主权项 |
一种具有冗余电路的相变存储器,包括写入电路、存储阵列及P个冗余行或Q个冗余列,其特征在于:还包括多个信息存储电路、行或列开关选择电路;所述P个冗余行或Q个冗余列连续排列于存储阵列的行或列之后;所述存储阵列的每一行控制线连接有P+1个行开关或每一列控制线连接有Q+1个列开关;所述第0个行开关或列开关串联在所在行或列控制线上;第1到第P个行开关或第1到第Q个列开关的一端连接到所在行或列控制线,另一端依次连接到所在行或列的下1到P行或1到Q列控制线上;所述每一个行开关或每一个列开关对应连接一个信息存储电路;所述行或列开关选择电路与所有信息存储电路相连;所述所有信息存储电路与写入电路相连;当测试出存储阵列某一行或列有缺陷时,先通过行或列开关选择电路,针对有缺陷行或列及有缺陷行或列后的所有行或列,选择当前闭合的行开关或列开关对应的信息存储电路,由写入电路在选择的信息存储电路中存储行或列开关关断信息,且所述信息存储电路输出开关控制信号,关断对应的行开关或列开关;再通过行或列开关选择电路,针对有缺陷行或列及有缺陷行或列后的所有行或列,选择一个与无缺陷行或列相连的、相同序号的行开关或列开关对应的信息存储电路,由写入电路在选择的信息存储电路中存储行或列开关导通信息,且所述信息存储电路输出开关控制信号,导通对应的行开关或列开关。 |
地址 |
100176 北京市经济技术开发区宏达北路12号创新大厦A座1区4层418室 |