发明名称 晶体硅太阳电池接触电阻率测量装置
摘要 本实用新型公开一种晶体硅太阳电池接触电阻率测量装置,包括样品台、横向调节系统、纵向调节板、探针安装板和锁紧系统,其特征是探针安装板上设有探针孔,探针孔呈纵向排列,在探针孔内安装探针,探针安装板由锁紧系统固定,通过横向调节系统和纵向调节板与样品台连接。本实用新型功能独特,测量时无须移动电池片,通过调节横向调节杆和纵向调节板,可将探针安装板移动至样品台任一位置,然后用锁紧系统将探针安装板锁定,既可实现对样品任意位置的测量,又能确保测量的稳定性和准确性。
申请公布号 CN202305597U 申请公布日期 2012.07.04
申请号 CN201120039144.X 申请日期 2011.02.15
申请人 中山大学 发明人 沈辉;林荣超;曾飞;朱微桦
分类号 G01R1/067(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I;G01R31/36(2006.01)I 主分类号 G01R1/067(2006.01)I
代理机构 广州市一新专利商标事务所有限公司 44220 代理人 陈振华
主权项 一种晶体硅太阳电池接触电阻率测量装置,包括样品台、横向调节系统、纵向调节板、探针安装板和锁紧系统,其特征在于:探针安装板(5)上设有探针孔(11),探针孔呈纵向排列,在探针孔上安装探针,探针安装板通过锁紧系统(7)固定,并通过横向调节系统和纵向调节板与样品台连接。
地址 510275 广东省广州市海珠区新港西路135号