| 发明名称 | 平面度检测仪 | ||
| 摘要 | 一种平面度检测仪，包括一机架、一工件平台，所述机架上装设有一激光检测器，以及一可接收所述激光检测器的测量数据并分析平面度的检测控制箱，该检测控制箱至少包括一可编程微处理单元。该微处理单元接收激光检测器的数据，并计算其平整度值，然后比较该差值与预先设定的预设值，如超过预设值则产品不合格。 | ||
| 申请公布号 | CN202304773U | 申请公布日期 | 2012.07.04 |
| 申请号 | CN201120408919.6 | 申请日期 | 2011.10.24 |
| 申请人 | 赫比（上海）通讯科技有限公司 | 发明人 | 董庭栋 |
| 分类号 | G01B11/30(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/30(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人 | 马家骏 |
| 主权项 | 一种平面度检测仪，包括一机架、一工件平台，其特征在于，所述机架上装设有一激光检测器，以及一可接收所述激光检测器的测量数据并分析平面度的检测控制箱，该检测控制箱至少包括一可编程的微处理单元。 | ||
| 地址 | 201206 上海市浦东新区上海浦东金桥出口加工区金海路955号 | ||