发明名称 |
检测多层结构的隐藏层中的异常的系统和方法 |
摘要 |
提供了一种用于检测多层结构的第一层的隐藏部分中的异常的系统和方法。监控元件被提供在延伸通过多层结构的紧固件的至少一个暴露端上,并且另一监控元件被提供在第一层的暴露部分上。借助监控元件的至少一个,引入检查信号进入包括第一层的隐藏部分的多层结构。在检查信号传播通过包括第一层的隐藏部分的多层结构的至少一部分之后,用监控元件的至少另一个感测检查信号。最终,基于感测到的检查信号可以检测第一层的隐藏部分中的异常。 |
申请公布号 |
CN102549419A |
申请公布日期 |
2012.07.04 |
申请号 |
CN201080044658.2 |
申请日期 |
2010.07.02 |
申请人 |
波音公司 |
发明人 |
E·V·维特;J·P·邓恩 |
分类号 |
G01N29/04(2006.01)I;B64F5/00(2006.01)I;G10K11/00(2006.01)I;G01N29/22(2006.01)I |
主分类号 |
G01N29/04(2006.01)I |
代理机构 |
北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 |
代理人 |
赵蓉民 |
主权项 |
一种用于检测多层结构的第一层的隐藏部分中的异常的方法,所述方法包括:在延伸通过所述多层结构的紧固件的至少一个暴露端上提供监控元件;在所述第一层的暴露部分上提供另一监控元件;用所述监控元件中的至少一个引入检查信号到包括所述第一层的隐藏部分的所述多层结构;在所述检查信号传播通过包括所述第一层的隐藏部分的所述多层结构的至少一部分之后,用所述监控元件中的至少另一个感测所述检查信号;以及基于感测到的所述检查信号检测所述第一层的隐藏部分中的异常。 |
地址 |
美国伊利诺伊州 |