发明名称 任意表面三维形貌测量系统
摘要 本发明提供了一种任意表面三维形貌测量系统,其特征在于,包括激光点阵投射单元、图像采集单元和三维重建单元;其中,述激光点阵投射单元,用于向被测表面投射点阵结构光,包括激光光源和正交光栅,所述正交光栅设置在所述激光光源到被测表面的光路上;图像采集单元,用于获取所述被测表面的图像,并将该图像发送给所述三维重建单元;三维重建单元,用于与所述图像采集单元连接,用于对所述图像进行处理,获得被测表面的三维形貌数据。本发明可以不受测量表面颜色及测量环境的制约,对黑色或深色表面进行测量,也可在光学照明环境不佳的情况下得到精确的表面三维形貌测量结果。
申请公布号 CN102538708A 申请公布日期 2012.07.04
申请号 CN201110437711.1 申请日期 2011.12.23
申请人 北京理工大学 发明人 马少鹏;刘程林;马沁巍;曾祥福
分类号 G01B11/25(2006.01)I;G01B11/245(2006.01)I 主分类号 G01B11/25(2006.01)I
代理机构 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 代理人 杨颖;张一军
主权项 一种任意表面三维形貌测量系统,其特征在于,包括激光点阵投射单元、图像采集单元和三维重建单元;其中,所述激光点阵投射单元,用于向被测表面投射点阵结构光,包括激光光源和正交光栅,所述正交光栅设置在所述激光光源到被测表面的光路上;所述图像采集单元,用于获取所述被测表面的图像,并将该图像发送给所述三维重建单元;所述三维重建单元,用于与所述图像采集单元连接,用于对所述图像进行处理,获得被测表面的三维形貌数据。
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