发明名称 |
数字X射线影像检查装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种数字X射线影像检查装置,包括X射线发生器、X射线感测器、信号处理单元和影像显示器。所述X射线感测器分为直接式和间接式,其中直接式包括:薄膜晶体管阵列基板,该薄膜晶体管阵列基板中的薄膜晶体管阵列采用顶栅型结构;形成于该薄膜晶体管阵列基板上的光电转换层;形成于光电转换层上的偏压电极;置于薄膜晶体管阵列基板底部的深色背板。该薄膜晶体管阵列基板中的栅极材料为重金属或重金属合金。通过采用顶栅结构,并且栅极材料选用X射线较难穿透的重金属或重金属合金,能够使得有源层沟道光电流大大减小,从而减少测量噪声,增加了测量精确度。 |
申请公布号 |
CN202305447U |
申请公布日期 |
2012.07.04 |
申请号 |
CN201120374911.2 |
申请日期 |
2011.09.27 |
申请人 |
北京京东方光电科技有限公司 |
发明人 |
张金中 |
分类号 |
G01N23/227(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/227(2006.01)I |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 |
代理人 |
黄志华 |
主权项 |
一种数字X射线影像检查装置,包括X射线发生器、X射线感测器、信号处理单元和影像显示器,其特征在于,所述X射线感测器包括:薄膜晶体管阵列基板,所述薄膜晶体管阵列基板中的薄膜晶体管阵列采用顶栅型结构;形成于该薄膜晶体管阵列基板上的光电转换层;形成于光电转换层上的偏压电极;置于薄膜晶体管阵列基板底部的深色背板。 |
地址 |
100176 北京市大兴区经济技术开发区西环中路8号 |