发明名称 用于分层照相检验的方法和设备
摘要 本发明名称为用于分层照相检验的方法和设备。在一些实施例中,一种成像系统(10)包括:多焦点X射线源(14),其配置成生成至少两个X射线束(26)并将每个生成的X射线束(26)以不同角度逐个向视场投射,而基本不旋转或平移多焦点X射线源(14)。系统(10)还可包括与多焦点X射线源(14)相对的检测器(20),它与视场相关并配置成接收从每个不同角度投射的X射线束(26)的至少一部分,以及产生对应于每个不同角度的、视场的至少两个X射线投影图像,其中每个X射线投影图像配置成互相相对移动并相加,以重构视场的平面。
申请公布号 CN102539456A 申请公布日期 2012.07.04
申请号 CN201110437105.X 申请日期 2011.12.15
申请人 通用电气公司 发明人 D·米什拉;W·R·罗斯;F·F·霍普金斯;K·J·弗鲁特希;C·比诺
分类号 G01N23/04(2006.01)I;G01B15/02(2006.01)I 主分类号 G01N23/04(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 柯广华;朱海煜
主权项 一种成像系统(10),包括:多焦点X射线源(14),配置成生成至少两个X射线束(26)并将每个所生成的X射线束(26)以不同角度逐个向视场投射,而基本不旋转或平移所述多焦点X射线源(14);与所述多焦点X射线源(14)相对的检测器(20),与所述视场相关并配置成接收从每个所述不同角度所投射的X射线束(26)的至少一部分,以及产生对应于每个所述不同角度的、所述视场的至少两个X射线投影图像,其中每个所述X射线投影图像配置成互相相对移动并相加,以重构所述视场的平面。
地址 美国纽约州