一种测试芯片的方法及装置

摘要

本发明提供了一种测试芯片的方法及装置，所述包括：在每个被测IC芯片内设置用于测试芯片正常逻辑功能的内建自测BIST电路；所述方法还包括：被测IC芯片通过数据转换逻辑电路接收来自主控IC芯片的自测试指令，进入自测模式；被测IC芯片中的内建自测电路通过数据转换逻辑电路接收来自主控IC芯片的测试数据指令，对所述被测IC芯片中的逻辑功能进行测试，返回测试结果；其中，所述数据转换逻辑电路将来自主控IC芯片的指令转换为串行信号后发送给被控IC芯片，将来自被控IC芯片的信号转换为并行信号后发送给主控IC芯片。应用本发明，降低了对出货前芯片的测试成本，提高测试效率。

主权项

一种测试芯片的方法，其特征在于，包括：在每个被测集成电路IC芯片内设置用于测试芯片正常逻辑功能的内建自测BIST电路；所述方法还包括：被测IC芯片通过数据转换逻辑电路接收来自主控IC芯片的自测试控制信号，进入自测模式；被测IC芯片中的内建自测电路通过数据转换逻辑电路接收来自主控IC芯片的测试数据指令及测试数据，对所述被测IC芯片中的各模块逻辑功能进行测试，返回测试结果；其中，所述数据转换逻辑电路，将来自主控IC芯片的测试数据指令及测试数据转换为串行信号后发送给被控IC芯片，将来自被控IC芯片的信号转换为并行信号后发送给主控IC芯片。