发明名称 METROLOGY METHOD AND APPARATUS, LITHOGRAPHIC APPARATUS, LITHOGRAPHIC PROCESSING CELL AND SUBSTRATE COMPRISING METROLOGY TARGETS
摘要
申请公布号 EP2470960(A1) 申请公布日期 2012.07.04
申请号 EP20100740632 申请日期 2010.08.05
申请人 ASML NETHERLANDS BV 发明人 SMILDE, HENDRIK;DEN BOEF, ARIE;COENE, WILLEM;BLEEKER, ARNO;KOOLEN, ARMAND;PELLEMANS, HENRICUS;PLUG, REINDER
分类号 G03F7/20 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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