发明名称 | 检测坏像素的方法和装置以及捕获图像的方法和装置 | ||
摘要 | 一种检测在具有像素阵列以产生多个图像帧的图像传感器中的坏像素的方法和装置、以及一种从图像传感器中捕获图像以检测图像传感器中的坏像素的方法和装置。感测图像帧的场景变化,以及如果感测到场景变化,则执行检测像素阵列中的坏像素的检测操作。 | ||
申请公布号 | CN101277385B | 申请公布日期 | 2012.07.04 |
申请号 | CN200810088410.0 | 申请日期 | 2008.03.26 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 辛成基;金在锡;金东郁;李炯汉;李元宰;安志勋 |
分类号 | H04N5/367(2011.01)I | 主分类号 | H04N5/367(2011.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 钱大勇 |
主权项 | 一种检测在具有像素阵列以产生多个图像帧的图像传感器中的坏像素的方法,所述方法包括:感测第一和第二图像帧集合之间的场景变化,每个图像帧集合包括所述多个图像帧的至少一个;以及如果感测到所述场景变化,则检测在所述像素阵列中是否存在坏像素,其中,检测在所述像素阵列中是否存在坏像素包括在几个场景变化之后,如果像素的亮度值继续保持不变或者仅仅轻微偏离,则确定该像素为坏像素。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |