发明名称 凹陷沟道型PNPN场效应晶体管的制造方法
摘要 本发明公开了一种凹陷沟道型PNPN场效应晶体管的制造方法。凹陷型的沟道结构使得晶体管在减小漏电流的同时增大了驱动电流,也就是在降低芯片功耗的同时提高了芯片的性能。采用本发明的凹陷沟道型PNPN场效应晶体管的制造方法,工艺过程简单,效率高,降低了生产成本。
申请公布号 CN101866858B 申请公布日期 2012.07.04
申请号 CN201010186373.4 申请日期 2010.05.27
申请人 复旦大学 发明人 臧松干;王鹏飞;张卫
分类号 H01L21/336(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I;H01L21/22(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人 陆飞;盛志范
主权项 一种凹陷沟道型PNPN场效应晶体管的制造方法,其特征在于具体步骤为:提供一个具有第一种掺杂类型的半导体衬底;进行离子注入,在提供的半导体衬底内形成第一种掺杂类型的区域;在经上步处理的半导体衬底上淀积形成第一种绝缘薄膜;通过光刻,将所述第一种绝缘薄膜和第一种掺杂类型的区域刻蚀掉,露出进行后续掺杂的半导体衬底区域;在上步形成的结构上,淀积形成第二种绝缘薄膜;然后进行各向异性刻蚀,形成由第二种绝缘薄膜构成的侧墙;在上步形成的结构上,直接进行扩散,形成第二种掺杂类型的区域;在上步行成的结构上淀积形成第三种绝缘薄膜;通过自对准方法刻蚀形成器件的凹陷沟道区域;该凹陷沟道为U型;在该步骤中,上述侧墙被完全刻蚀掉;在上步行成的结构上形成第四种绝缘薄膜;在上步行成的结构上淀积形成第一种导电薄膜;刻蚀形成器件的栅极结构,即通过光刻,刻蚀掉未被保护的第一种导电薄膜作为栅极,刻蚀出条状结构;该栅极位于凹陷沟道上方;剥除剩余的第一种、第三种绝缘薄膜;在上步行成的结构上淀积形成第五种绝缘薄膜,并对所述第五种绝缘薄膜进行刻蚀形成通孔结构;即在栅极上方开孔,形成栅极接触孔,在栅极两侧的第一种掺杂区域和第二种掺杂区域分别开孔,形成源极和漏极的接触孔;淀积第二种导电薄膜形成电极。
地址 200433 上海市邯郸路220号
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