发明名称 |
凹陷沟道型PNPN场效应晶体管的制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种凹陷沟道型PNPN场效应晶体管的制造方法。凹陷型的沟道结构使得晶体管在减小漏电流的同时增大了驱动电流,也就是在降低芯片功耗的同时提高了芯片的性能。采用本发明的凹陷沟道型PNPN场效应晶体管的制造方法,工艺过程简单,效率高,降低了生产成本。 |
申请公布号 |
CN101866858B |
申请公布日期 |
2012.07.04 |
申请号 |
CN201010186373.4 |
申请日期 |
2010.05.27 |
申请人 |
复旦大学 |
发明人 |
臧松干;王鹏飞;张卫 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I;H01L21/22(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 |
上海正旦专利代理有限公司 31200 |
代理人 |
陆飞;盛志范 |
主权项 |
一种凹陷沟道型PNPN场效应晶体管的制造方法,其特征在于具体步骤为:提供一个具有第一种掺杂类型的半导体衬底;进行离子注入,在提供的半导体衬底内形成第一种掺杂类型的区域;在经上步处理的半导体衬底上淀积形成第一种绝缘薄膜;通过光刻,将所述第一种绝缘薄膜和第一种掺杂类型的区域刻蚀掉,露出进行后续掺杂的半导体衬底区域;在上步形成的结构上,淀积形成第二种绝缘薄膜;然后进行各向异性刻蚀,形成由第二种绝缘薄膜构成的侧墙;在上步形成的结构上,直接进行扩散,形成第二种掺杂类型的区域;在上步行成的结构上淀积形成第三种绝缘薄膜;通过自对准方法刻蚀形成器件的凹陷沟道区域;该凹陷沟道为U型;在该步骤中,上述侧墙被完全刻蚀掉;在上步行成的结构上形成第四种绝缘薄膜;在上步行成的结构上淀积形成第一种导电薄膜;刻蚀形成器件的栅极结构,即通过光刻,刻蚀掉未被保护的第一种导电薄膜作为栅极,刻蚀出条状结构;该栅极位于凹陷沟道上方;剥除剩余的第一种、第三种绝缘薄膜;在上步行成的结构上淀积形成第五种绝缘薄膜,并对所述第五种绝缘薄膜进行刻蚀形成通孔结构;即在栅极上方开孔,形成栅极接触孔,在栅极两侧的第一种掺杂区域和第二种掺杂区域分别开孔,形成源极和漏极的接触孔;淀积第二种导电薄膜形成电极。 |
地址 |
200433 上海市邯郸路220号 |