发明名称 一种脚型参数测量装置及测量方法
摘要 本发明公开了一种脚型参数测量装置及测量方法,装置包括封装箱体、计算机,以及分别嵌入封装箱体中的足底扫描测试平台、多个摄像头、带有光栅的点光源。本发明通过实际集成化设备,将平面扫描仪,点光源和两个摄像头设备有机结合,形成一个脚型参数测量装置,直接提供完整的足部特征位置、数据信息以及三维重构的足部模型。
申请公布号 CN102525034A 申请公布日期 2012.07.04
申请号 CN201110373179.1 申请日期 2011.11.22
申请人 中国科学院合肥物质科学研究院 发明人 周旭;王俊青;程涛军;孙怡宁;李文;占礼奎;马祖长;杨先军;姚志明;何江南
分类号 A43D1/02(2006.01)I 主分类号 A43D1/02(2006.01)I
代理机构 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 代理人 余成俊
主权项 一种脚型参数测量装置,其特征在于:包括有封装箱体、计算机,以及分别嵌入封装箱体中的足底扫描测试平台、三个CMOS摄像头、两个带有光栅的点光源;点光源的出射光通过光栅后在足部形成投影,足底扫描测试平台位于封装箱体底部,足底扫描测试平台对足底进行扫描,多个摄像头分别位于封装箱体不同侧壁上,采集在三维空间中不同方向的带有投影的足部图像;所述计算机与足底扫描测试平台、摄像头通讯连接,接收足底扫描测试平台、摄像头各自传输的数据。
地址 230031 安徽省合肥市西郊董铺1130号信箱