发明名称 |
一种脚型参数测量装置及测量方法 |
摘要 |
本发明公开了一种脚型参数测量装置及测量方法,装置包括封装箱体、计算机,以及分别嵌入封装箱体中的足底扫描测试平台、多个摄像头、带有光栅的点光源。本发明通过实际集成化设备,将平面扫描仪,点光源和两个摄像头设备有机结合,形成一个脚型参数测量装置,直接提供完整的足部特征位置、数据信息以及三维重构的足部模型。 |
申请公布号 |
CN102525034A |
申请公布日期 |
2012.07.04 |
申请号 |
CN201110373179.1 |
申请日期 |
2011.11.22 |
申请人 |
中国科学院合肥物质科学研究院 |
发明人 |
周旭;王俊青;程涛军;孙怡宁;李文;占礼奎;马祖长;杨先军;姚志明;何江南 |
分类号 |
A43D1/02(2006.01)I |
主分类号 |
A43D1/02(2006.01)I |
代理机构 |
安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 |
代理人 |
余成俊 |
主权项 |
一种脚型参数测量装置,其特征在于:包括有封装箱体、计算机,以及分别嵌入封装箱体中的足底扫描测试平台、三个CMOS摄像头、两个带有光栅的点光源;点光源的出射光通过光栅后在足部形成投影,足底扫描测试平台位于封装箱体底部,足底扫描测试平台对足底进行扫描,多个摄像头分别位于封装箱体不同侧壁上,采集在三维空间中不同方向的带有投影的足部图像;所述计算机与足底扫描测试平台、摄像头通讯连接,接收足底扫描测试平台、摄像头各自传输的数据。 |
地址 |
230031 安徽省合肥市西郊董铺1130号信箱 |