发明名称 一种应用于移动存储SOC芯片的仿真验证方法
摘要 本发明公开了一种应用于移动存储SOC芯片的仿真验证方法。包括:建立存储器模块的步骤;建立兼容性产生机制的步骤;建立检测点的步骤和产生激励数据进行检测的步骤。采用本发明实现对移动存储SOC芯片的功能验证。
申请公布号 CN102542110A 申请公布日期 2012.07.04
申请号 CN201110459205.2 申请日期 2011.12.29
申请人 北京时代民芯科技有限公司;中国航天科技集团公司第九研究院第七七二研究所 发明人 褚晓滨;宗宇;王莉;张志永;谷羽;宋晶峰;谢俊玲
分类号 G06F17/50(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 中国航天科技专利中心 11009 代理人 安丽
主权项 一种应用于移动存储SOC芯片的仿真验证方法,其特征在于包括以下步骤:步骤1:建立存储器模型根据被测移动存储SOC芯片的测试目的建立存储器模型,所述存储器模块为带有时序特性的HDL仿真模型;步骤2:建立兼容性产生机制确定被测移动存储SOC芯片与所述存储器模型的指令与数据的格式,所述指令包括由被测移动存储SOC芯片向存储器模型发送的命令和由存储器模型向被测移动存储SOC芯片发送的响应;针对指令或数据的格式,确定对指令或数据内容的修改方式;所述修改方式包括更改、增加或缩短指令或数据格式中字段的内容;步骤3:建立检测点确定断言检测机制并建立断言检测点;建立覆盖率检测模型,所述覆盖率检测模型包括功能覆盖率和代码覆盖率;步骤4:产生激励数据进行检测按任务形成对移动存储SOC芯片的激励数据;移动存储SOC芯片根据接收的激励数据与存储器模型;对步骤3中建立的检测点进行判读,获得对移动存储SOC芯片的仿真验证结果。
地址 100076 北京市丰台区东高地四营门北路2号
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