发明名称 | 基于可旋转波片的Mueller矩阵测试装置和方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种基于可旋转波片实现光学器件Mueller矩阵的测试装置和方法。测试系统由激光器、偏振发生器、被测器件、偏振分析仪、电压控制器和计算机构成。由激光器产生的光进入偏振发生装置,偏振发生装置由起偏器加可旋转波片构成,波片旋转角度大于180度,波片旋转由电压控制,不同控制电压下,偏振发生器产生不同偏振态输出。由偏振发生器输出的光进入被测器件,被测器件输出的光直接进入偏振分析仪,由偏振分析仪测出在不同控制电压时,相应的偏振发生器的输出偏振态和被测器件的输出偏振态的Stokes参数。之后建立起由测得的输入输出偏振态参数与被测器件的Mueller矩阵参数之间的线性系统方程,再由计算机求解该系统方程,即可解出Mueller矩阵的16个参数。 | ||
申请公布号 | CN102539119A | 申请公布日期 | 2012.07.04 |
申请号 | CN201110443352.0 | 申请日期 | 2011.12.27 |
申请人 | 上海大学 | 发明人 | 王春华;李力;黄肇明;刘涛 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人 | 何文欣 |
主权项 | 一种基于可旋转波片的Mueller矩阵测量装置, 包括激光器(1)、偏振发生器(2)、被测器件(3)、偏振分析仪(4)、电压控制器(5)和计算机(6),其特征在于:所述激光器(1)的输出光经过所述的偏振发生器(2)后,输出到被测器件(3),被测器件(3)的输出连接到所述的偏振分析仪(4),所述的偏振发生器(2)和电压控制器(5)相连,所属偏振分析仪(4)和电压控制器(5)与所述计算机(6)相连;由激光器(1)产生的光进入偏振发生器(2),偏振发生器的输出偏振态随偏振发生器(2)的控制电压的变化而变;偏振发生器(2)的输出光进入被测器件(3),之后光直接进入偏振分析仪(4),进行偏振态Stokes参数测量, 偏振发生器(2)的电压控制器(5)为偏振发生器(2)的旋转装置提供转动控制电压,并将控制电压参数送至计算机(6);计算机(6)用于接收偏振分析仪(4)的测量结果和电压控制器(5)的电压参数,根据相应的系统方程和优化算法,求解被测器件的Mueller矩阵参数。 | ||
地址 | 200444 上海市宝山区上大路99号 |