| 发明名称 | RAID卡的测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种RAID卡的测试方法，包括：步骤S1：将RAID卡与多块硬盘相连接，从而形成RAID阵列；以及步骤S2：移除RAID阵列中的至少一块硬盘，并使用第一硬盘压力测试工具对RAID阵列进行压力测试。本发明所公开的RAID卡的测试方法能够全面准确地测试RAID卡的稳定性，省时省力。 | ||
| 申请公布号 | CN102541704A | 申请公布日期 | 2012.07.04 |
| 申请号 | CN201110455790.9 | 申请日期 | 2011.12.31 |
| 申请人 | 曙光信息产业股份有限公司 | 发明人 | 李景运 |
| 分类号 | G06F11/22(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/22(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京德恒律师事务所 11306 | 代理人 | 陆鑫;房岭梅 |
| 主权项 | 一种RAID卡的测试方法，包括：步骤S1：将RAID卡与多块硬盘相连接，从而形成RAID阵列；以及步骤S2：移除所述RAID阵列中的至少一块硬盘，并使用第一硬盘压力测试工具对所述RAID阵列进行压力测试。 | ||
| 地址 | 300384 天津市西青区华苑产业区（环外）海泰华科大街15号1-3层 | ||