发明名称 |
一种低射频阻抗测量装置 |
摘要 |
本发明公开了一种用于辅助射频功率放大器开发的低射频阻抗测量装置,包括50Ω同轴匹配负载(1)、同轴一微带过渡连接器(2)、附加两节阻抗变换微带线的被测低射频阻抗电路(3)、微带OSL校准电路板(4),两节阻抗变换微带线(b、c)把低射频阻抗微带电路(a)的阻抗水平提高到矢量网络分析仪能够精确测量的水平,从而消除了直接测量低射频阻抗误差大的问题;微带OSL校准件消除了同轴测试口与微带电路过渡部分引入的测试误差,使测量精度进一步提高。本发明具有结构简单、测量精度好、成本低廉等优点。 |
申请公布号 |
CN101782609B |
申请公布日期 |
2012.07.04 |
申请号 |
CN200910308560.2 |
申请日期 |
2009.10.21 |
申请人 |
成都芯通科技股份有限公司 |
发明人 |
钟名庆 |
分类号 |
G01R27/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R27/02(2006.01)I |
代理机构 |
四川力久律师事务所 51221 |
代理人 |
熊晓果;王芸 |
主权项 |
1.一种低射频阻抗测量装置,其特征在于:在被测低射频阻抗电路与矢量网络分析仪的同轴测试口之间依次连接第一阻抗变换微带线、第二阻抗变换微带线以及同轴过渡微带线,在第二阻抗变换微带线端面上矢量网络分析仪测得的阻抗Z<sub>LM</sub>与被测低射频阻抗电路的阻抗之间存在关系式:<img file="2009103085602100001DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="113" he="57" />,其中,Z<sub>L</sub>为被测低射频阻抗电路的阻抗,Z<sub>01</sub>为第一阻抗变换微带线的特性阻抗,Z<sub>02</sub>为第二阻抗变换微带线的特性阻抗,Z<sub>02</sub>:Z<sub>01</sub>的比值大于1;所述第一阻抗变换微带线为90o阻抗变换线;第二阻抗变换微带线为90°阻抗变换线。 |
地址 |
610041 四川省成都市高新区天府大道南延线高新孵化园6号楼3层 |