发明名称 用于通过低频频谱确定样本特征的系统和方法
摘要 用于判断产生分子旋转的样本(200)的方法和装置。把样本放入具有磁屏蔽罩和电磁屏蔽罩的容器(50),向样本加入高斯噪声。检测到含有叠加了加入的高斯噪声的样本源辐射的电磁时域信号,将该信号与由同一样本产生的第二时域信号进行互相关运算,求出带有频域成分的互相关信号,用快速傅里叶变换“FFT”以产生一个频率范围在DC到50kHz范围的频域频谱来绘制该信号。根据该频谱,识别出所判断的样本的一或多个特征低频信号分量。
申请公布号 CN1633603B 申请公布日期 2012.07.04
申请号 CN03803793.9 申请日期 2003.03.28
申请人 纳特维斯公司 发明人 约翰·T·巴特斯;贝内特·M·巴特斯;利萨·C·巴特斯
分类号 G01R33/02(2006.01)I 主分类号 G01R33/02(2006.01)I
代理机构 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 代理人 邬玥;葛强
主权项 用于判断表现出分子旋转的样本的装置,包含了适用于容纳所述样本的容器,所述容器具有磁屏蔽罩和电磁屏蔽罩,向样本加入噪声的高斯噪声源,和样本一起置于所述容器中,用于检测含有叠加在加入的高斯噪声上的样本源辐射的电磁时域信号的检测器,用于存储所述时域信号和从相同或相似样本中分别检测出的时域信号的存储设备,以及电子计算机,适用于从存储设备接收存储的信号,并通过下列方式对信号进行处理:(i)将检测到的时域信号与所述第二个时域信号进行互相关运算,以产生一个频率范围在DC到50kHz范围的频域频谱,以及(ii)产生一个包括和作为样本特征的频谱中的低频频谱成分相关的信息的输出。
地址 美国华盛顿