| 发明名称 | 用于测量光学传感器的光谱的方法和设备 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于测量光学传感器光谱的方法和设备，其中光束(2)照射到与要测量的介质接触的光学传感器(3)上，其中光学传感器(3)发射由于要测量的介质而改变的测量束(4)，并且测量束(4)被馈送到热探测器(8)，该热探测器(8)发出与光谱相对应的输出信号；其中测量信号(4)的强度在照射到热探测器(8)上之前被调制。为了提供成本有效的不受震动影响的具有长使用期的测量设备，通过调整包含在测量束(4)的光谱中的波长而发生测量束(4)的强度调制。 | ||
| 申请公布号 | CN102539342A | 申请公布日期 | 2012.07.04 |
| 申请号 | CN201110430288.2 | 申请日期 | 2011.12.20 |
| 申请人 | 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司 | 发明人 | 哈孔·米克尔森;拉尔夫·伯恩哈特 |
| 分类号 | G01N21/25(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/25(2006.01)I |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人 | 关兆辉;谢丽娜 |
| 主权项 | 一种用于测量光学传感器的光谱、有利地在红外区域中的方法，其中，光束(2)照射到与要测量的介质接触的光学传感器(3)上，其中所述光学传感器(3)发射由于所述要测量的介质而改变的测量束(4)；测量束(4)被馈送到热探测器(8)，所述热探测器(8)发出与所述光谱相对应的输出信号；其中，所述测量信号(4)的强度在照射到热探测器(8)上之前被调制，其特征在于：通过调整包含在所述测量束(4)的光谱中的波长而发生测量束(4)的强度调制。 | ||
| 地址 | 德国盖林根 | ||