| 发明名称 | 原子力显微镜样品变温装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种简单的原子力显微镜样品变温装置。它包括一块隔热板和一个恒温块；所述隔热板置于原子力显微镜的样品台上，所述恒温块置于所述隔热板上并固定于原子力显微镜的样品台上，样品直接置于所述恒温块上；所述恒温块为导热金属材料制成。本发明可改变所载的样品的温度，能方便快速地进行不同温度下样品表面结构及性质测试。整套装置结构简单，操作方便，实用性强。 | ||
| 申请公布号 | CN102539839A | 申请公布日期 | 2012.07.04 |
| 申请号 | CN201110431293.5 | 申请日期 | 2011.12.21 |
| 申请人 | 上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司 | 发明人 | 熊丹;钟建;施妍玲;沈霞;张柯;何丹农 |
| 分类号 | G01Q60/24(2010.01)I | 主分类号 | G01Q60/24(2010.01)I |
| 代理机构 | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人 | 何文欣 |
| 主权项 | 一种原子力显微镜样品变温装置，包括一块隔热板（1）和一个恒温块（2）；其特征在于：所述隔热板（1）置于原子力显微镜的样品台上，所述恒温块（2）置于所述隔热板（1）上并固定于原子力显微镜的样品台上，样品直接置于所述恒温块（2）上；所述恒温块（2）为导热金属材料制成。 | ||
| 地址 | 200241 上海市闵行区江川东路28号 | ||