发明名称 | 确定缺陷的方法及记录/再现设备和信息存储介质 | ||
摘要 | 本发明提供一种确定在信息存储介质上是否存在缺陷的方法,以及使用该方法的记录/再现设备。该方法包括:从管理信息存储介质并包括缺陷块的状态信息和替换块的状态信息的缺陷列表搜索其状态信息指示缺陷块或替换块已未经检查而被重新初始化的缺陷条目,其中,所述介质包括用于记录替换在介质上的用户数据区中出现的缺陷块的替换块的备用区;和检查在搜索到的缺陷条目中注册的缺陷块或替换块。结果,可有效地重新安排通过执行未经检查盘的快速重新初始化产生的缺陷信息,从而提高驱动器系统的性能。 | ||
申请公布号 | CN101777356B | 申请公布日期 | 2012.07.04 |
申请号 | CN201010002092.9 | 申请日期 | 2005.11.17 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 黄盛凞;高祯完;成孝振 |
分类号 | G11B7/005(2006.01)I | 主分类号 | G11B7/005(2006.01)I |
代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人 | 郭鸿禧;刘奕晴 |
主权项 | 一种将数据记录在信息存储介质上/从信息存储介质再现数据的设备,包括:写入/读取单元,将数据记录在信息存储介质上,并从包括缺陷列表的信息存储介质读取记录的数据;和控制单元,重新初始化信息存储介质;如果在重新初始化信息存储介质之后通过缺陷列表管理的块属于用户数据区域,则产生与所述块对应的缺陷条目,并将所述缺陷条目存储在缺陷列表中,所述缺陷条目包括指示用户数据区域中的所述块的缺陷状态的第一状态信息、指示所述块是否存储有有效数据的第二状态信息、以及作为缺陷块的位置信息的所述块的位置信息;检查所述块;如果所述块被确定为非缺陷块,则从缺陷列表删除与所述块相应的缺陷条目。 | ||
地址 | 韩国京畿道水原市 |