发明名称 微流体晶片之自动化检测系统
摘要 一种微流体晶片之自动化检测系统,包括一微流体晶片,具有基板层、流体层及气体控制层,该基板层具有微阵列检测反应区,该流体层设置于该基板层上方,且具有供检测试剂注入及汇流之管道,该气体控制层设置于该流体层上方,用以控制该管道之开关作动俾使该流体层内的液体流动;一流体供应源,包含该检测试剂,系分别注入该微流体晶片之该流体层;一气压源,系对该微流体晶片之该气体控制层灌注与释放高压气体;以及一控制器,系与该气压源连接,且具有复数个电磁阀,俾藉由该电磁阀控制该气压源对该微流体晶片灌注与释放高压气体之时序。
申请公布号 TWM432834 申请公布日期 2012.07.01
申请号 TW101202353 申请日期 2012.02.09
申请人 万金凤 新竹市中华路5段377号 发明人 万金凤
分类号 G01N33/48 主分类号 G01N33/48
代理机构 代理人 曾国轩 台北市内湖区瑞光路583巷27号4楼;王丽茹 台北市内湖区瑞光路583巷27号4楼
主权项
地址 新竹市中华路5段377号