发明名称 半导体积体电路装置之制造方法
摘要 本发明系在半导体积体电路装置之制造技术中,提供一种资料之作成简单,且不良部之目视确认容易之印刷于基板上之焊料之2D.3D检查技术。在利用2D.3D焊料印刷检查装置之基板之检查步骤中,在检查装置安装2D检查机能与3D检查机能,首先执行3D检查,接着执行2D检查,在检查结束之同时,可放大显示判定不良之垫(印刷焊料)之部分之2D摄影图像,藉此对作业员提供有效之目视确认环境。又,在作成检查资料时,藉由测定未加工基,检查装置调查自动产生之独自之高度测定基准与垫上面高度之关系,藉此,可在检查中,依据垫上面基准测定印刷焊料之高度.体积。
申请公布号 TWI367536 申请公布日期 2012.07.01
申请号 TW093140311 申请日期 2004.12.23
申请人 瑞萨电子股份有限公司 日本 发明人 渡部典生
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 日本