| 摘要 |
取出附着于既定频率之高频电波的杂讯，并从该杂讯之产生个数、产生时刻、及杂讯之强度等来观测杂讯之状态，以推测构成杂讯产生之原因的现象。;藉由高频放大器AMP3及采取高频侧振幅降低手段之AMP4分别进行输出讯号SHS及输出讯号SHR之第2次放大。此时，由于AMP4其高频区域之增益较小，因此其输出SHR-2之振幅虽会减少，不过由于高频杂讯因载波SH使得频率更高，因此杂讯NzB之振幅变得更小。另一侧之输出讯号SHS系以藉由宽频之放大装置AMP3直接放大，使其振幅一致以作为SHR-2之方式，通过涵盖全域之振幅调整手段使SHS-2与SHR-2之幅度一致之后，再度藉由两讯号相加放大手段彼此相加并设定既定阈值以取出杂讯。 |
