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发明名称
制造半导体装置之方法
摘要
本发明揭示一种制造半导体装置之方法,其包括以下步骤:于一绝缘层中形成凹陷(一通道孔与布线沟槽);藉由使用一种基于具有一烷基之矽烷的气体作为前导物于该等凹陷之内侧表面上形成一密封层;对该密封层施加EB固化或UV固化;以及以一导体填充该等凹陷。
申请公布号
TWI367546
申请公布日期
2012.07.01
申请号
TW096134959
申请日期
2007.09.19
申请人
新力股份有限公司 日本
发明人
荒川伸一
分类号
H01L21/768;H01L21/3105
主分类号
H01L21/768
代理机构
代理人
陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址
日本
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